横浜
2017年7月6日・7日
ショートプレゼンテーション タイトルのご案内

会期中、会場ホワイエにて、弊社製品のTipsや活用のポイントなどをご紹介す
るショートプレゼンテーションを実施します。
[聴講無料、事前申込不要]

※プログラムは現在準備中です。

<モデリング>

  • 3D-CADのデザインパラメータを使い倒す!
  • サーフェス修正による領域の閉じ方
  • シェル要素って何?薄厚形状のモデリング勘所
  • プリズムレイヤーを狙った通りに作成するには
  • 薄板領域だけにシンメッシャーを作ってみよう

<解析>

  • 1D解析ツールAmesimとの連成解析
  • DEM解析の豆知識 3点
  • Electronics Coolingツールセットの紹介
  • STAR-CD/es-iceによるRCM解析の紹介
  • モーフィングを使って境界を動かそう
  • やってみよう、めっき解析
  • 回転軸・羽根を壊さないためのシミュレーション
  • 簡単!Admixtusで撹拌槽解析
  • 粘弾性流体解析の基礎
  • 面倒なDEM粒子の安息角計算を簡単に
  • 毛細管現象を解いてVOFを学ぶ

<結果処理>

  • STAR-CCM+で高速フーリエ変換を行うには
  • きれいな画像の作成方法
  • フリービューアソフトSTAR-View+の機能紹介
  • 結果処理の超入門
  • 知っておきたいDEM計算のポスト処理
  • 注釈機能で解析結果をわかりやすく

<Tips>

  • es-iceのTips紹介
  • フィールド関数を使うと何ができる?
  • 統合開発環境を使って簡単にJavaマクロを作成しよう

<設計探査(最適化)>

  • Adjoint法を用いた形状最適化の誘い
  • LiveDemo! 回転機械の最適化計算
  • 効率良く探査を行うためのCAD形状エラー低減テクニック!
  • 探査技術を活用して目標値に合わせ込もう

STAR Japanese Conference 2017

2017-07-06 10:00 to 2017-07-07 18:00

STAR Japanese Conference2017』では、STAR-CCM+®ソフトウェアやHEEDS™ソフトウェアといったMDX製品群のご利用ユーザー様によるエンジニアリングシミュレーション適用事例のご発表をはじめ、弊社より最新のCAE・CFD技術のご紹介など様々なプログラムをご用意しております。車両、重工業、化学、電気・電子、エネルギー、建築、医療機器といった幅広い産業分野における問題解決やコスト削減、イノベーションにつながる最新情報を獲得できる国内最大級のCAE・CFDカンファレンスへご登録の上、是非ご参加ください。

【開催概要】
日時:2017年7月6日(木)10:00~18:00予定  [18:00 より懇親会を開催予定]
     2017年7月7日(金)10:00~17:20予定
    ※受付開始 9:15~

会場:横浜ロイヤルパークホテル 宴会棟3F 大宴会場「鳳翔」 (横浜市西区みなとみらい2-2-1-3)

【プログラム】
●プログラムPDFはこちら  ●詳細プログラム(アブストラクト含む)はこちら

【参加登録について】
カンファレンスへの参加登録費は無料となりますが、事前登録制となっております。

本ページ下部にございます「参加登録を開始」ボタンをクリックし、お申込をお願いします。
お席に限りがございますのでお早目にご登録をお願いいたします。

参加登録手順がご不明な方はこちらにてご確認ください。
※競合他社様の登録はご遠慮いただいておりますので、予めご了承ください。

お問合せ先:
シーメンスPLMソフトウェア(株式会社CD-adapco)
E-mail: conference-japan@cd-adapco.com
Tel: 045 475 3285

参加登録
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